Published Journals
Applications of Microstructured Silicon Wafers as Internal Reflection Elements in Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared Spectroscopy
Typ der Veröffentlichung
Zeitschriftenaufsatz
Veröffentlicht in
Applied Spectroscopy
Schlagwörter
-
Jahrgang/Erscheinungsjahr
2010
Band/Vol.
64
Heftnummer/Issue
9
Seiten
1022-1027
Referiert
Ja
Berichtsjahr
2010
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