Abschlussarbeiten - Master
Determination of interface trap density at the Front and Back gate interfaces of 22 nm FDSOI Transistor
Art der Abschlussarbeit
Master
Autoren
- Umar, Rubaeat
Betreuer
- Prof. Dr. rer. nat. Johann Wolfgang Bartha
Weitere Betreuer
Dr. Plötner (IHM-MST), Dr. Faul, Lars Mueller-Meskamp (Gobalfoundries)
Schlagwörter
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Berichtsjahr
2019