Publikationen

2023

• Application and evaluation of classic and demand oriented cooling strategies in context of machine toolsWenkler, E., Steiert, C., Ihlenfeldt, S. & Weber, J., 11 Dez. 2023, in: The International Journal of Advanced Manufacturing Technology. 130 (2024), 3-4, S. 1451-1463, 13 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Feasibility and Optimisation of Cu-Sintering under Nitrogen AtmosphereMeyer, J., Gierth, K. F. W., Meier, K. & Bock, K., 8 Dez. 2023, Proceedings of the 25th Electronics Packaging Technology Conference, EPTC 2023. Tay, A., Chui, K. J., Lim, Y. K., Tan, C. S. & Shin, S. (Hrsg.). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 569-573, 5 S., 10457721Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Improvement in Wafer-to-Wafer Hybrid Bonding Using Optimized Chemical Mechanical Planarization Process for Cu DishingKhurana, G. & Panchenko, I., 8 Dez. 2023, 2023 IEEE 25th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC). Tay, A., Chui, K. J., Lim, Y. K., Tan, C. S. & Shin, S. (Hrsg.). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 373-380, 8 S., 10457774Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Study on Using Noisy Synthetic Data for Neural Networks to Assess Thermo-Mechanical Reliability Parameters of Solder InterconnectsAlbrecht, O., Höhne, R. D. J., Barkur, D., Meier, K. & Bock, K., 8 Dez. 2023, Proceedings of the 25th Electronics Packaging Technology Conference, EPTC 2023. Tay, A., Chui, K. J., Lim, Y. K., Tan, C. S. & Shin, S. (Hrsg.). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 751-756, 6 S., 10457730Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Temperature-dependent Creep Characterization of Lead-free Solder Alloys Using Nanoindentation for Finite Element ModelingDudash, V., Machani, K. V., Meier, K., Geisler, H., Mueller, M., Kuechenmeister, F., Wieland, M. & 1 weitere, 8 Dez. 2023, Proceedings of the 25th Electronics Packaging Technology Conference, EPTC 2023. Tay, A., Chui, K. J., Lim, Y. K., Tan, C. S. & Shin, S. (Hrsg.). Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 757-763, 7 S., 10457727Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband
• Feature causalityDubslaff, C., Weis, K., Baier, C. & Apel, S., 7 Dez. 2023, in: Journal of Systems and Software. 209 (2024), 19 S., 111915Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Tailoring of thermomagnetic properties in Ni-Mn-Ga films through Cu additionFink, L., Nielsch, K. & Fähler, S., 5 Dez. 2023, in: Journal of alloys and compounds. 966, 171435Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• Uncertainty analysis of gamma-ray densitometry applied for gas flow modulation technique in bubble columnsMarchini, S., Bieberle, A., Schubert, M. & Hampel, U., 5 Dez. 2023, in: Chemical engineering science. 282, 119214Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Fachzeitschrift > Forschungsartikel
• A Last-Level Defense for Application Integrity and ConfidentialityPereira Fernandez, G., Brito, A., Hartono, A. P. P., Sardar, M. U. & Fetzer, C., 4 Dez. 2023, 10 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag zu Konferenzen > Paper
• Digital Twin of the Radio Environment: A Novel Approach for Anomaly Detection in Wireless NetworksKrause, A., Khursheed, M. D., Schulz, P., Burmeister, F. & Fettweis, G., 4 Dez. 2023, 2023 IEEE Globecom Workshops (GC Wkshps). S. 1307-1312, 6 S.Elektronische (Volltext-)VersionPublikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten > Beitrag in Konferenzband