Vortragstätigkeiten
Evaluation of Electron Microscopy Techniques for the Purpose of Classification of Nanomaterials
Vortragender
J. Mielke, F. Babick, T. Uusimäki, P. Müller, E. Verleysen, V.-D. Hodoroaba
Tagung, Kongress, Vorlesungsreihe
EMC 2016 - The 16th European Microscopy Congress
Zeitraum
28.08.2016 - 02.09.2016
Ort
Lyon
Land
Frankreich
Berichtsjahr
2016