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In-situ real-time Spectroscopic Ellipsometry for the investigation of Atomic Layer Depositions on Graphene.
Poster
Typ der Veröffentlichung
Konferenzbeitrag
Veröffentlicht in
9th Workshop Ellipsometry : February 23-25, 2015 University of Twente in Enschede, the Netherlands
Schlagwörter
-
Jahrgang/Erscheinungsjahr
2015
Referiert
Nein
Open Access
Nein
Zugeordnete Forschungsschwerpunkte
- * Atomic Layer Deposition (ALD)
Berichtsjahr
2015
Export
Kategorien
Journal | Konferenzen | Bücher | Patente