Details zur Lehrveranstaltung
| Scanning electron microscopy | |
| Modul: | Phy-Ba-PV: Physikalische Vertiefung |
| Lecture language | German |
| Summary of Lecture: | Imaging by SEM; signals, detectors and image contrast; energy-dispersive X-ray analysis (EDX); electron back-scatter diffraction (EBSD) and crystal structure, phase distribution and lattice orientation; cross-correlation EBSD for stress determination; cathodoluminescence and electronic structure; electron-beam induced currents (EBIC) in semiconductors; imaging of extended crystal lattice defects |
| data set up-to-date | |
| Scope: | lecture: 2 hours/week |
| Time/location: | MO(2) online |
| Audience: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
| Specialization area: | |
| Previous knowledge: | Experimentalphysik II und III, Atom- und Festkörperphysik | Certificate: | Teilnahmebestätigung |
| Enrolment: | Ab sofort in OPAL sowie am Montag, den 12.04.2021 in der 1. VL |
| Web-reference: | https://bildungsportal.sachsen.de/opal/auth/RepositoryEntry/10931634176/CourseNode/93374047735526 |
| Die Lehrveranstaltung beginnt am Montag, dem 12.4.2021 um 9:20Uhr mit einer Online-Vorlesung unter Zoom. Den Link finden Sie in OPAL. Dort bespreche ich mit Ihnen das weitere Vorgehen. In jedem Fall gibt es Unterlagen zum Download zu jedem Thema. Am Ende des Semesters plane ich praktische Übungen am REM, die je nach Corona-Lage als Einzel- oder Gruppensitzungen stattfinden werden. | |