Details zur Lehrveranstaltung
Scanning electron microscopy | |
Modul: | Phy-Ba-Vert: Physikalische Vertiefung |
Lecture language | German |
Summary of Lecture: | Set up of an SEM; image contrast; determination of chemical composition of samples; analysis of crystal structure, phase distribution and crystal lattice orientation; quantitative determination of internal strains and stresses; investigation of optical and electrical properties of semiconductor materials |
data set up-to-date | |
Scope: | lecture: 2 hours/week |
Time/location: | MO(2) CHE/184 |
Audience: | Vertiefung Bachelor (PV) und Master (alle) |
Specialization area: | |
Previous knowledge: | Experimentalphysik III, Atom- und Festkörperphysik | Certificate: | Teilnahmebestätigung |
Enrolment: | Montag, 01. 04. 2019 zur ersten Vorlesung |
Web-reference: | https://bildungsportal.sachsen.de/opal/auth/RepositoryEntry/10931634176?11 |
In die Vorlesung werden praktischen Übungen an einem Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionskathode (Zeiss Ultra55) integriert, die nach Rücksprache mit mir auch an eigenen Untersuchungsproben durchgeführt werden können. |